【大紀元1月19日訊】1月《英國醫學雜志》（BMJ2004；328：19-21）發表一項大規模瑞典研究說，嬰兒期對大腦的電離輻射劑量達到頭部CT掃描中的量時，可能影響以後的智力發育。

　　盡管已知對發育中的大腦大劑量電離輻射可能引起智力低下，但還不知道小劑量是否“對認知功能有微妙的影響”，斯德哥爾摩卡羅林斯卡研究所霍爾（Per Hall）和同事寫道。為此，他們分析了近3000名18-19歲男性－－出生18個月內因皮膚血管瘤接受過放射治療－－的認知能力和受教育程度。參與者按輻射劑量分為四組：1-20、>20-100、>100-250和>250mGy。

　　霍爾和同事發現，接受的輻射劑量大於100mGy的男孩與1-20mGy的最小劑量相比，上中學的百分率更小。上中學率從沒有輻射過的32%下降到>250mGy的17%。嬰兒期大腦的放療對學習和邏輯推理能力也有劑量相關性影響，但對空間識別沒有作用。

　　估計對嬰兒進行頭部CT掃描的輻射量為120mGy。“與CT掃描的輻射量重合的放射水平至少在某些時候對智力發育有不利影響”，霍爾和同事寫道。基於這些結論，他們認為“CT掃描對輕微頭創傷的利、弊需要重新評估”。@

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