【大紀元2012年04月11日訊】(大紀元記者魏新笛悉尼編譯報導)一項新的研究發現,過去曾頻繁做過牙科X光射線檢查的患者,得腦瘤的風險更高。
美國研究人員就在美國最常診斷出的腦腫瘤-腦膜瘤和會發出電離輻射的牙科X光檢查之間的關係進行了研究。
電離輻射是導致多為良性腫瘤的腦膜瘤的主要環境風險因素。
該研究將確診為腦膜瘤的20至79歲的1433名患者,與1350名具有相似特點的健康人相比較。
研究發現,10歲以下有過牙科X光射線檢查的患者,有可能發展腦膜瘤的風險大5倍。特別是一種被稱為panorex、在口外拍片顯示整個牙齒的檢查。
研究還發現,每年做一次或更多次相同的X光檢查的人,根據年齡,患腦膜瘤的風險分別為2.7至3倍;每年做一次或多次在牙齒之間放片的咬合X-射線檢查的患者,患腦膜瘤的風險分別為1.4到1.9倍。
報告的主要作者,美國耶魯大學醫學院的克勞斯(Elizabeth Claus)說,牙病患者受到的輻射劑量,現在比過去要低得多。她說,美國牙科協會提出的建議,兒童每隔一到兩年接受一次X光檢查,青少年為每一年半至三年,成年人為每兩年到三年。
悉尼大學公共衛生學院教授阿姆斯特朗(Bruce Armstrong)表示,有些現在患腦膜瘤的人可能是由於過去接觸過X光射線檢查,而帶有更高的風險。不過他強調,現在新的X光射線技術可能會降低這類風險。在澳洲,有行業規則指導如何最低限度降低患者和醫生接觸電離輻射的風險,按照規定,要儘量保持合理低的X光射線劑量,並在只有臨床確定需要做X光射線檢查時才應使用。
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