【大紀元3月28日報導】（中央社記者管中維台北二十八日電）經濟部標準檢驗局今天表示，標檢局國家度量衡標準實驗室領先全球成功開發「雙光梳絕對光頻量測技術」，不須藉由波長儀提供概略的頻率，即可絕對量測波長介於1050至2100奈米之間任何未知雷射的頻率，有助光通訊產業開發前瞻儀器及檢測設備，目前已申請多國專利。

標檢局指出，這項新技術的特點是直接透過「鎖模雷射光梳」（簡稱光梳），精準測量光的頻率，突破傳統的複雜光頻量測方法，未來還可結合相關器材，發展便於使用的攜帶型儀器。

標檢局表示，光梳是量測光頻率的一把尺，但事實上，這把尺有刻線卻沒有標明刻度，這項新技術利用「雙」光梳同時量測光頻，清楚地將刻度標定出來，目前已申請多國專利，並將在國際會議及期刊上發表。

標檢局指出，雙光梳絕對光頻量測技術有助設計研發超寬領域的光頻率計數器、光頻率合成器、高解析度光頻率頻譜分析儀。