【大紀元9月7日報導】(中央社記者韋樞台北七日電)安捷倫科技與國家實驗研究院國家奈米元件實驗室，今天針對「晶圓級高頻元件自動測試與分析程式」簽訂技術合作協定，這項改良型技術不但提升半導體製程技術和產品良率，同時還能回饋給安捷倫科技公司，奈米元件實驗室也可再開發新的應用。

「晶圓級高頻元件自動測試與分析程式」技術合作協定，是由安捷倫科技亞太區通訊電子設計自動化總經理葉豪相與奈米元件實驗室主任倪衛新代表，在台北科技大樓簽署。國家實驗研究院院長李羅權與台灣安捷倫董事長申義龍見證。

葉豪相表示，安捷倫科技先前將昂貴的工具軟體IC-CAP（積體電路特性描述與分析程式）捐贈給奈米實驗室，實驗室的研究團隊在研究員黃國威帶領下，逐步研發出「晶圓級高頻元件自動測試與分析程式」技術，並轉移給安捷倫科技，讓系統軟體功能效率更完善。

葉豪相指出，奈米實驗室發展出的這項技術，可協助安捷倫在IC-CAP平台上提供更多一流技術，將晶圓級高頻元件自動測試與分析技術整合到IC-CAP平台中，可提供半導體產業製程技術最佳元件模型化解決方案，提升半導體元件模擬的品質與準確度。

黃國威說，過去做高頻元件或模型化的工程在封裝時並沒有自動化測試設備，需要手動調整測試，有了新技術即可改採自動化測試，加速晶圓級高頻元件的特性測試及統計分析，可提升半導體製程技術的發展，並達到簡化設計流程、縮短產品開發時間且增加新產品開發成功率的需求，可大幅提升台灣半導體產業競爭力。